被測(cè)工件Y置于工作臺(tái)上,，在透射或反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像Y′(倒像)并經(jīng)光鏡M1與M2反射于投影屏P的磨沙面上。當(dāng)反光鏡M1換成反像系統(tǒng)后,Y′即成為反像，一個(gè)與工件完全反向的影像,反像投影儀在屏上可用標(biāo)準(zhǔn)玻璃工作尺對(duì)Y′進(jìn)行測(cè)量，也可以用預(yù)先繪制好的標(biāo)準(zhǔn)放大圖對(duì)它進(jìn)行比較測(cè)。測(cè)得的數(shù)值除以物鏡的放大倍數(shù)即是工件的測(cè)量尺寸。還可以利用工作臺(tái)上的數(shù)位測(cè)量系統(tǒng)對(duì)工件Y進(jìn)行座標(biāo)測(cè)量；也可利用投影屏旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯系統(tǒng)對(duì)工件的角度進(jìn)行測(cè)量。視工件的性質(zhì)，兩種照明可分別使用，也可同時(shí)使用。半反半透鏡L 僅僅在反射照明時(shí)才使用。

 

    數(shù)字式光學(xué)投影儀總體結(jié)構(gòu)：主要由投影箱,主殼體和工作臺(tái))三大部分構(gòu)成。

 

1 投影箱:包括儀器的成像系統(tǒng)即物鏡，反光鏡M1與M2投影屏和多功能資料測(cè)量處理電箱。投影屏旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)上裝有角度感測(cè)器。

2 儀器主殼體:除支撐投影箱和工作臺(tái)外，儀器的照明系統(tǒng),電器控制系統(tǒng),以及冷卻風(fēng)扇等均裝上面。

3 儀器工作臺(tái):包括從(X軸)、橫(Y軸)向運(yùn)動(dòng)(座標(biāo)測(cè)量用)和垂向(Z軸)運(yùn)動(dòng)(調(diào)焦用)。X軸與Y軸配有解析度為0.001mm的光柵線位移感測(cè)器。

 

 

    數(shù)字式光學(xué)投影儀的測(cè)量方法，投影儀測(cè)量方法概括為輪廓測(cè)量與座標(biāo)測(cè)量.

 

    用“標(biāo)準(zhǔn)放大圖”進(jìn)行比較測(cè)量：此法適用于形狀復(fù)雜，批量大的零件檢驗(yàn)。步驟為：按零件大小確定物鏡倍率,再按零件設(shè)計(jì)圖紙制作與物鏡放大倍率相同比例的標(biāo)準(zhǔn)放大圖，材料選用伸縮性較小的透明塑膠片。在圖上還可以繪出允許的公差帶,如零件尺寸在￠30左右,則制10:1的放大圖，選用10X物鏡進(jìn)行測(cè)量.標(biāo)準(zhǔn)圓弧、角度、螺紋、齒形、網(wǎng)格、等放大圖也有現(xiàn)成的可購(gòu)買。將標(biāo)準(zhǔn)放大圖用四只彈性壓板在投影屏上。工件放在工作臺(tái)上，調(diào)好焦.移動(dòng)X、Y工作臺(tái)使零件影像與放大圖套準(zhǔn)。

 

    若工作影像與放大圖的偏差在公差帶之內(nèi)，則為合格.超出范圍為不合格,偏差數(shù)值可以用X、Y座標(biāo)測(cè)量出來(lái)。用格值為0.5mm標(biāo)準(zhǔn)玻璃工作尺(選購(gòu)附件)在屏上直接測(cè)量工件影像的大小(小于格值部分也可用X、Y座標(biāo)數(shù)顯測(cè)出)，除以物鏡放大倍數(shù)即為工件的測(cè)量尺寸。